可靠性实验
01
高温直流反向偏压测试（High Temperature Reverse Bias Test）
| 实验时机(计划) |
试验周期(H) |
取样数量(PCS) |
| 新品研发 |
1000 |
77*3(依据AEC-Q101) |
| 年度试验 |
1000 |
77 |
| 新物料确认 |
168 |
77*3(依据AEC-Q101) |
| 月度可靠性监控 |
168 |
22 |
- 实验类别：环境（温度）电应力复合验证
- 实验目的：验证产品在高温状态下芯片的反向工作能力
- 实验参考标准： GB/T 4023、JESD22-A108
- 实验条件： VR(VZ)=80%*VRMAX，TA=TJ±5℃
- 实验设备：高温反偏试验系统
02
间歇寿命试验测试（Intermittent Operational Life）
| 实验时机(计划) |
试验周期(H) |
取样数量(PCS) |
| 新品研发 |
7500 |
77*3(依据AEC-Q101) |
| 新物料确认 |
1000 |
77 |
| 月度可靠性监控 |
1000 |
22 |
| IQC来料检验 |
1000 |
10 |
- 实验类别：电性应力测试
- 实验目的：验证产品在间歇运行中的综合性能
- 实验参考标准： MIL-STD-75等同于AEC-Q101-Rev-D1
- 实验条件： ΔTj≥100℃时，2min ON/2mil OFF
- 实验设备：间歇寿命试验系统
03
工作寿命试验测试（Continuous Operation Test）
| 实验时机(计划) |
试验周期(H) |
取样数量(PCS) |
| 新品研发 |
1000 |
77*3 |
| 新物料确认 |
168 |
77 |
| 月度可靠性监控 |
168 |
22 |
| IQC来料检验 |
168 |
10 |
- 实验类别：电性应力验证
- 实验目的：验证产品在额定电流(功率)条件下的综合性能
- 实验参考标准： GB/T 4023/JESD 22-A-108
- 实验条件：将被测样品加入电压与电流乘积等于 Ptot,
- 实验设备： 二极管恒流老化测试系统
| 实验时机(计划) |
试验周期(H) |
取样数量(PCS) |
| 新品研发 |
正负极各5次 |
30*1(依据AEC-Q101) |
| 年度试验 |
正负极各5次 |
30 |
| 新物料确认 |
正负极各5次 |
22 |
| 月度可靠性监控 |
正负极各5次 |
22 |
- 实验类别：电性应力验证
- 实验目的：验证产品芯片抗静电能力
- 实验参考标准：JESD22-A114-A (HBM);JESD22-A115-A(MM)
- 实验条件：RH=30-60%，TA=10-35℃ 按照规格要求
- 实验设备：静电放电发生器
05
浪涌电流测试（Peak Forward Surge Current Test）
| 实验时机(计划) |
试验周期(H) |
取样数量(PCS) |
| 新品研发 |
8.3mS |
77 |
| 年度试验 |
8.3mS |
77 |
| 新物料确认 |
8.3mS |
40 |
| 月度可靠性监控 |
8.3mS |
40 |
- 实验类别：电性应力验证
- 实验目的：验证产品正向抗浪涌电流能力
- 实验参考标准： 内部规格测试（破坏性）
- 实验条件： T=8.3mS（或特殊的制定测试波形和时间）
- 实验设备：正向浪涌电流发生器
06
高温贮存试验（High Temperature Storage Test）
| 实验时机(计划) |
试验周期(H) |
取样数量(PCS) |
| 新品研发 |
1000 |
77*3(依据AEC-Q101) |
| 年度试验 |
1000 |
77 |
| 新物料确认 |
168 |
77 |
| 月度可靠性监控 |
168 |
22 |
- 实验类别：环境应力验证
- 实验目的：验证产品在高温状态下贮存能力
- 实验参考标准：GB/T 4937.6-2012等同于 IEC 60749-6:2002
- 实验条件： TA=TstgMax±5℃（150℃）
- 实验设备：高温试验箱
07
低温贮存试验（Low Temperature Storage Test）
| 实验时机(计划) |
试验周期(H) |
取样数量(PCS) |
| 新品研发 |
1000 |
77*3(依据AEC-Q101) |
| 年度试验 |
1000 |
77 |
| 新物料确认 |
168 |
77 |
| 月度可靠性监控 |
168 |
22 |
- 实验类别：环境应力验证
- 实验目的：验证产品在低温状态下贮存能力
- 实验参考标准： MIL-STD-810F
- 实验条件： TA=-55℃±5℃
- 实验设备：低温试验箱
08
恒温恒湿存储试验（Constant Temperature/Humidity Storage Test）
| 实验时机(计划) |
试验周期(H) |
取样数量(PCS) |
| 新品研发 |
1000 |
77*3(依据AEC-Q101) |
| 年度试验 |
1000 |
77 |
| 新物料确认 |
168 |
77 |
| 月度可靠性监控 |
168 |
22 |
- 实验类别：环境应力验证
- 实验目的：验证产品塑封体密闭性和防潮性
- 实验参考标准： JESD22-A101
- 实验条件： Ta: 85±2℃，RH: 85±5%
- 实验设备：可程式恒温恒湿试验箱
09
温度循环测试（Temperature Cycling Test）
| 实验时机(计划) |
试验周期(H) |
取样数量(PCS) |
| 新品研发 |
1000 |
77*3(依据AEC-Q101) |
| 年度试验 |
1000 |
77 |
| 新物料确认 |
1000 |
77 |
| 月度可靠性监控 |
100 |
22 |
- 实验类别：环境（温度）应力验证
- 实验目的：验证产品所能耐高/低温度循环变化的程度
- 实验参考标准： JESD22-A104C 、AEC-Q101、GB/T2423.22
- 实验条件： (气态到气态）Ta=-55℃ 30min-----+150℃30min(转换时间1分钟）
- 实验设备：柏毅温度循环实验机
10
耐焊接热试验/可焊性试验（Solder Heat Resistance Test/ Solderability Test ）
| 实验时机(计划) |
试验周期(H) |
取样数量(PCS) |
| 新品研发 |
10+2/0S /5±1S |
10*1(依据AEC-Q101) |
| 年度试验 |
10+2/0S /5±1S |
22 |
| 新物料确认 |
10+2/0S /5±1S |
22 |
| 月度可靠性监控 |
10+2/0S /5±1S |
22 |
- 实验类别：环境应力/焊锡性验证
- 实验目的：验证产品抗耐焊接热冲击能力 /上锡能力
- 实验参考标准： GB/T4937.20-2012 /JESD22-B102D
- 实验条件： 锡液温度：260℃±5℃，10+2/-0 S / TA=245℃±3℃，T=5±1S
- 实验设备：数控恒温熔锡炉
11
高温高压高湿试验测试（Pressure Cooker Test）
| 实验时机(计划) |
试验周期(H) |
取样数量(PCS) |
| 新品研发 |
96 |
77*3(依据AEC-Q101) |
| 年度试验 |
96 |
77 |
| 新物料确认 |
96 |
77 |
| 月度可靠性监控 |
96 |
22 |
- 实验类别：环境应力测试
- 实验目的：验证产品封装密闭性及抗湿气能力
- 实验参考标准： JESD22-A108
- 实验条件： 压力:2.07kg/cm2，温度：121℃，湿度：100%
- 实验设备：PCT试验箱
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